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Rasterelektronenmikroskop mit EDX
zur Untersuchung von Bruchflächen, verschlissenen Oberflächen
und chemischen Analysen mit bis zu 300’000 facher Vergrösserung
Makroskopie
zur Beurteilung der Topographie von Oberflächen, Verschleissspuren, etc.
mit einer Auflösung im Bereich mit bis zu 40 facher Vergrösserung
Rauhigkeitsmessung
zur einfachen Beschreibung der Oberfläche in Zahlenwerten. Wir können aber auch
Traganteile, SK-Werte und andere tribologisch wichtige Grössen messen und nutzen
dies als Instrument bei Verschleissproblemen
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